Тестирование больших интегральных схем



Предыдущая | Следующая

Тестирование больших интегральных схем


     Плата персонального компьютера содержит более ста микросхем (это устаревшие сведения для очень старых компьютеров). Большинство из них расположены рядом друг с другом в корпусах DIP, имеющих 30 и менее контактов. Практически на каждой плате вы увидите большие по размерам микросхемы, которые имеют другие корпуса. Например, у некоторых микросхем контакты выходят со всех четырех сторон квадратного корпуса, число контактов составляет 40, 64, 68 и более. На рис. 6.1 показана разводка контактов процессора i80386, на корпусе которого есть 132 контакта. Такие микросхемы называются большими интегральными схемами (БИС) или сверхбольшими интегральными схемами (СБИС).
     Типичная БИС содержит около тысячи крошечных схем. С точки зрения поиска неисправностей СБИС представляет собой один компонент. Если один из крошечных транзисторов выходит из строя, приходится выбрасывать всю БИС, так как отремонтировать ее невозможно. К счастью, БИС очень надежные компоненты, но иногда они, как и любой другой электронный компонент, все же выходят из строя. Обычно дефектную БИС нетрудно обнаружить и заменить на работоспособную. Я постараюсь объяснить, как обращаться с БИС.

 

 Поиск и устранение неисправностей в персональных компьютерах