Более сложные тесты ЗУПВ


Более сложные тесты ЗУПВ
Бит в запоминающем элементе ЗУПВ хранится как Н- или L-уровень напряжения. В статических ЗУПВ (см. рис. 8.3) напряжение поддерживается перекрестными связями так, что один транзистор включен, а второй выключен. При сохранении другого бита транзисторы переключаются. Из-за старения схем запоминающие свойства элемента ухудшаются и его работа становится неустойчивой, что может привести к ошибкам в вычислениях.
В элементе динамического ЗУПВ (см. рис. 8.4) логическое состояние хранится как Н-уровень на конденсаторе между затвором и каналом МОП-транзистора. Изоляция между затвором и каналом действует как диэлектрик конденсатора. При старении микросхем изолирующие качества диэлектрика ухудшаются и возникает утечка электронов между затвором и каналом. Заряд, который с самого начала требовал постоянной регенерации, ослабевает.
При переключении состояния запоминающий элемент статического или динамического ЗУПВ испытывает электрический удар. Он должен выдержать этот удар, так как в противном случае состояние элемента будет неправильным. Имеется довольно продолжительный тест ЗУПВ, который проверяет указанные выше качества ЗУПВ и способность элементов сохранять логические состояния, несмотря на электрические удары.
На первом шаге (рис. 10.6) ПЗУ заставляет процессор записать нули во все биты памяти. После этого процессор считывает все биты по одному. Когда процессор считывает нуль, он сразу же записывает вместо него единицу. Процессор продолжает эту операцию до заполнения всего ЗУПВ единицами.
В случае успеха (на данный момент) тест показывает, что каждый бит может хранить нуль и каждый из этих нулей можно считать. Кроме того, каждый из нулей можно заменить на единицу. Другими словами, ЗУПВ может передавать логические состояния между собой и процессором. Если бит передается неправильно, программа сразу останавливается на этом бите. Затем она идентифицирует дефектный бит и печатает номер неисправной микросхемы.
Пока этот тест похож на быстрый тест ЗУПВ тем, что найден неработающий бит и идентифицирована микросхема, содержащая такой бит. Фактически тест показывает бит, который не сохраняет свой заряд, когда следующий бит в строке заряжается до Н-уровня. Удар от зарядки целевого бита уничтожил заряд в бите, находящемся перед целевым битом. По существу, тест контролирует бит, находящийся перед целевым битом. Бит проверяется на устойчивость, когда целевой бит заряжается до единичного состояния. До этой точки тест проверил устойчивость бита перед целевым битом. А как быть с битом, находящимся после целевого бита? Ведь он тоже подвержен изменениям из-за изменения зарядов. Для доказательства работоспособности ЗУПВ необходимо проверить и этот бит.
Следовательно, следующая цель программы состоит в проверке бита, находящегося после целевого бита. Для этого каждый бит считывается вновь и проверяется, хранит ли он единицу. Если все биты содержат единицы, они считаются работающими правильно. В качестве последнего действия вместо единицы записывается нуль. Тестирование показало, что все ячейки устойчивы, и ЗУПВ считается прошедшим тест.

Когда при выполнении тест-программы процессор считывает и записывает в тысячи и тысячи битов, он может встретить дефектный бит. В этом случае программа немедленно прекращает тестирование и печатает сообщение об ошибке. Для статического ЗУПВ программа печатает адрес байта и разряд. Содержащая этот байт микросхема ЗУПВ заменяется, и компьютер считается отремонтированным.
Чаще всего, когда программа печатает адрес байта и разряд бита, этот бит и на самом деле дефектный. Но иногда программа ошибается и бит оказывается работоспособным. Неисправность может быть связана со входной схемой, одной из линий шин адреса и данных, а также другими линиями. Некоторые из этих неисправностей рассматриваются в главах 18 и 19.
Когда тест-программа обнаруживает дефектный бит в динамическом ЗУПВ и сообщает его адрес и разряд, вы можете определить дефектную микросхему. Каждая микросхема ЗУПВ содержит один и тот же разряд.

 

 Поиск и устранение неисправностей в персональных компьютерах