Контроль шины



Предыдущая | Следующая

Контроль шины
Для линий шины характерны короткие замыкания и разрывы, поэтому их необходимо проверять и чистить в начале ремонтных операций. Шины легко проверить с помощью логического пробника и принципиальной схемы компьютера. Некоторые схемы оказываются неполными, поэтому воспользуйтесь спецификациями производителя микросхем. Вам потребуется информация о физическом расположении контактов и типах напряжения или импульсов, которые должны быть на этих контактах.

Собственно тест заключается в проверке логического состояния на каждом контакте шины, который участвует в передаче битов. Предположим, что на входе считывания-записи элемента NAND шины данных (см. рис. 18.3) должен быть импульс с Н-уровнем. Если он есть, сигнал считывания-записи подается. Затем на входе элемента NAND, подключенном к 4-5 В, должен наблюдаться Н-уровень. Пробник при касании этого входа должен показать Н-уровень без импульсов.
Далее нужно коснуться выхода элемента NAND. В соответствии с таблицей истинности при наличии Н-уровней на двух входах на выходе элемента должен быть L-уровень. Если это так, пробник перемещается на следующий элемент NAND, который включен как инвертор. На входе инвертора пробник должен показать L-уровень, а на выходе — Н-уровень. Входной сигнал инвертора, т.е. L-уровень, подается на управление высокоимпедансным состоянием всех буферов, которые при записи передают данные из процессора в память. L-уровень выключает эти буферы. Выходной сигнал инвертора, т.е. Н-уровень, подается на управление буферами, которые при считывании передают данные из памяти в процессор. Н-уровень включает буферы. Рассмотренная ситуация соответствует операции считывания.
Затем следует проверить пробником сами буферы. Все буферы записи должны находиться в высоко-импедансном состоянии, а буферы считывания — во включенном. Буферы считывания должны показать логические состояния и импульсы на входах и выходах. Буферы записи должны показать логические состояния и импульсы на входах и высокоимпедансное состояние на выходах.
Таблицы истинности логических элементов легко запомнить — проверка идет быстро. В дополнение к проверкам сигналов на контактах микросхем вы можете провести простые тесты. Например, вход + 5 В можно закоротить на землю, превращая его в О В. При этом переключаются входы буферов и определяется операция записи. Такой тест не опасен и позволяет проверить правильную работу всех компонентов.

 

 Поиск и устранение неисправностей в персональных компьютерах